SEM/EDS analýza

Princip metody

  • Skenovací elektronový mikroskop (SEM) umožňuje zobrazení povrchu vzorku ve vysokém rozlišení, které převyšuje možnosti optické mikroskopie. Výsledný černobílý obraz vypovídá nejen o textuře povrchu, ale i o jeho prvkovém složení – atomy s vyšším prvkovým číslem se na fotografii zobrazí jako světlejší. Díky tomu lze na obrazu dobře odlišit např. vrstvy obsahující olovnaté pigmenty.
  • Elektronový mikroskop se často používá ve spojení s elektronově disperzním spektrometrem (EDS). S jeho pomocí lze určit prvkové složení povrchu.

Využití

  • Doplňková metoda k optické mikroskopii pro určení stratigrafie barevných vrstev. Podle textury a složení povrchu lze odlišit vrstvy, které ve viditelném a ultrafialovém světle splývají.
  • Stanovení anorganických pigmentů v jednotlivých vrstvách. Podle potřeby je možné provést bodové měření (určení složení jednotlivých zrn pigmentu) nebo plošné mapování povrchu. Určení druhu použitých pigmentů je zásadní pro dataci barevné vrstvy. 

Ukázky

Odkazy

Získejte registraci domén s tld .online, .space, .store, .tech zdarma!
Stačí si k jedné z těchto domén vybrat hosting Plus nebo Mega a registraci domény od nás dostanete za 0 Kč!
Objednat