SEM-EDS analýza
Princip metody
- SEM: Skenovací elektronový mikroskop zobrazí povrchu vzorku ve vysokém rozlišení, které převyšuje možnosti optické mikroskopie. Výsledný černobílý obraz vypovídá nejen o textuře povrchu, ale i o jeho prvkovém složení – atomy s vyšším prvkovým číslem se na fotografii zobrazí jako světlejší. Díky tomu lze na obrazu dobře odlišit např. vrstvy obsahující olovnaté pigmenty.
- Elektronový mikroskop se často používá ve spojení s elektronově disperzním spektrometrem – EDS. S jeho pomocí lze určit prvkové složení povrchu.
Využití
- Doplňková metoda k optické mikroskopii pro určení stratigrafie barevných vrstev. Podle textury a složení povrchu lze odlišit vrstvy, které ve viditelném a ultrafialovém světle splývají.
- Stanovení anorganických pigmentů v jednotlivých vrstvách. Podle potřeby je možné provést bodové měření (určení složení jednotlivých zrn pigmentu) nebo plošné mapování povrchu. Určení druhu použitých pigmentů je zásadní pro dataci barevné vrstvy.
Ukázky
